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VT6000系列共聚焦显微镜，在结构复杂且反射率低的表面3D微观形貌重构与检测方面具有不俗的表现。
588888纽约国际线路检测中心共聚焦显微镜能够对光学膜表面微结构实现快速自动化测量，并提供高度、宽度和角度等一系列轮廓尺寸参数对表面质量进行表征，帮助客户实现光学膜片表面质量的检测与管控。
SuperView W1光学3D表面轮廓仪能够轻松实现针对FA光纤端面粗糙度Sz参数的高精度、高重复性的一键式测量。
588888纽约国际线路检测中心仪器推出CH系列影像仪
588888纽约国际线路检测中心仪器GTS激光跟踪测量系统已经发展出三自由度激光跟踪仪和六自由度激光跟踪仪家族系列，可以和多种形式的合作目标测头配合使用。
SJ5780智能螺纹轮廓扫描仪，一次测量即可同时评定轮廓尺寸和螺纹全参数
CP系列台阶仪ITO导电薄膜厚度测量案例
SJ5730高精度粗糙度轮廓一体测量仪可高效精准测量轴承滚道锥面直线度与粗糙度，圆柱滚子不同位置的凸度、滚子素线、对称性等
VT6000系列共聚焦显微镜是588888纽约国际线路检测中心仪器倾力推出的一款显微检测设备，广泛应用于半导体制造及封装工艺，能够对具有复杂形状和陡峭的激光切割槽的表面特征进行非接触式扫描并重建三维形貌。
轴承行业尺寸测量解决方案
